三维表面轮廓仪利用光的干扰，可迅速，准确，并高检测性的对1*m~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测0575-88568819量。相比接触性方式，不会对测量物造成任何损伤，相比共焦方式，高解像力无关倍率均可得到统一结果，与AFM相比，可在宽测量领域内快速测量。
高度解像力0.1*m
任何倍率下，解像力均统一
测量纳米等级
测量高速，高精密度，高解像力表现形象
可测量透明/半透明/不透明登各种样品
*非破坏，预加工程序即可轻松测量
反复性，准确性，重现性较佳
利用光的干涉信号，将表面的形状到1*m~10cm为止，没有材料的破损，从相机中显示的全部领域，正确，检测到高强度为单位。
干涉信号是在任意义的基准点中，同时出现的光在移动到不同的场景（optical path），在移动后合上的时候，用两个场景（optical path）的物理现象，是一种明亮的明亮的形态，这是干涉信号。
主要经营公司主营产品：电化学工作站，恒电位仪，多通道电化学工作站，旋转圆盘环盘电极RDE，石英晶体微天平QCM，摩擦磨损试验机，三维形貌仪，轮廓仪，台绍兴佳友门业阶仪，原子力显微镜AFM，疲劳试验机，**材料试验机，扭转弯曲试验机，扭矩测试仪等。
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